[友豐貿易有限公司]-IR顯微鏡,IR孔穿透率量測系統,自動化顯微光學膜厚儀,三次元相關設備,形狀類測定機,光學類測定機,半導體檢測機,小量具,量測軟體,友豐,友豐貿易

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IR顯微鏡

● 檢測功能：利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良的發生

● 適合半導體業界檢測使用,如si interposer、TSV、Bumping、Flip chip、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、WLC-SP、封裝後成品等等。

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