產品介紹 (半導體檢測機)

IR 顯微鏡

●檢測功能：利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良的發生

●適合半導體業界檢測使用,如si interposer、TSV、Bumping、Flip chip、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、WLC-SP、封裝後成品等等。

●光學設計IR光源採用2種波長1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm

●檢測速度：0.1秒

●IR CCD有2種可選擇,1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm

●檢測速度：0.1秒